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在不損傷被測材料的情況下，檢查材料的內(nèi)在或表面缺陷，或測定材料的某些物理量、性能、組織狀態(tài)等的檢測技術(shù)。廣泛用于金屬材料、非金屬材料、復合材料及其制品以及一些電子元器件的檢測。常用的無損檢測技術(shù)有：

1. 射線探傷

利用X射線或γ射線在穿透被檢物各部分時強度衰減的不同，檢測被檢物的缺陷。

若將受到不同程度吸收的射線投射到X射線膠片上，經(jīng)顯影后可得到顯示物體厚度變化和內(nèi)部缺陷情況的照片。如用熒光屏代替膠片，可直接觀察被檢物體的內(nèi)部情況。

2. 超聲檢測

利用物體自身或缺陷的聲學特性對超聲波傳播的影響，來檢測物體的缺陷或某些物理特性。在超聲檢測中常用的超聲頻率為0.5～5兆赫（MHz）。最常用的超聲檢測是脈沖反射式探傷。

3. 磁粉探傷

通過磁粉在物體缺陷附近漏磁場中的堆積來檢測物體表面或近表面處的缺陷，被檢測物體必須具有鐵磁性。

4. 滲透探傷

利用某些液體對狹窄縫隙的滲透性來探測表面缺陷。常用的滲透液為含有有色染料或熒光的液體。

5. 渦流檢測

由于渦流的大小隨工件內(nèi)有沒有缺陷而不同，所以線圈電流變化的大小能反映有無缺陷。

此外，中子射線照相法、激光全息照相法、超聲全息照相法、紅外檢測、微波檢測等無損檢測新技術(shù)也得到了發(fā)展和應(yīng)用。

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